SW高手请指点

liyusheng

SW里，采样率的设定影响到测量信号的频宽，如果测一个30-3K的低音单元，而测量信号是0-22K的，那高频部分的测量结果就一塌糊涂。所以要根据测量的单元选择适当的采样率。

vegetal-bird

[这个贴子最后由vegetal-bird在 2004/04/08 01:47pm 编辑]

从你测量的图来看， 测低音时的采样率并没有降低，只是可能采样大小增加了。 这样看吧：
1。如果采样大小增加那么测量频带的数据点都会增加， 精确性也会增加， 但用的资源（比如内存）和测量时间也会增加。
2。采样率增加时，高频上限会增加， 假如这时采样大小不变，那么低频的数据点就会减少， 因为一部分数据点跑到高频去了。 这时要保证低频解析度， 就必须增加采样大小。
3。如果采样率降低到11k时其测量上限应该在5K左右， 也就是说用牺牲5K以上的测量来保证低频的解析度， 因为对于TS参数来说5K以上的影响不大， 但100以下就很重要， 所以一般都是测量低音单元是降低采样率， 也不一定要降到11K, 看情况而定， 有时22K也行了。多试几次你就会明白了。

vegetal-bird

[这个贴子最后由vegetal-bird在 2004/04/08 04:12pm 编辑]

以这个图为例， 这是我测量一个5寸低音的，未经平滑。 我用的采样率为24K, 所以上限大约是10K左右。 采样大小为64K, 留意一下200hz以下我的图的解析度和你的有什么分别。

dragonsh

昨天晚上重测了一下低音单元，降低了采样率，提高了采样大小，但曲线象被狗啃过一样。你的曲线真漂亮。
另，用附加重量法测出Q值大于3，不知哪里出了问题？
根据高保真音响制作的公式，Q值为Fo*Zmax/(f2-f1)/Ro,其中f2和f1为最大阻抗的0.707时的频率，离奇的高，这公式准吗？

dragonsh

我昨天晚上用SW用FREEAIR测了下空芯线圈的电感，电容。从电容的结果来看，由于测点的离散性，与标称值相比，有10%的差异。由于没有电容，电感表，不知准确性如何？
二位高手有什么好办法测电感（简单为上，另条件有限）？

liyusheng

曲线锯齿很多的话，可能是单元固定的不好，测电感电容用sw就行，很准确，但不使用freeair,先随便创建一个信号（signal）,然后选择刚创建的信号，再选择菜单的Measure的Passive component，就行了

sunsea

下面引用由liyusheng在 2004/04/09 11:44am 发表的内容：
.....测电感电容用sw就行，很准确，

我测的电感电容每次都不一样,有10%-30%的漂移，4.7u的在5.X uF 到 3.X uF之间。你测试的重复性有多大？

liyusheng

小数点后2位，大概能有0.5%的摆动

dragonsh

这星期在长春出差，回去后也测测试试。