高音单元参数如何测量

mackliu

我们平时在测的参数大多是低音单元,T/S参数也大都是针对低音单元,但高音的参数该如何测呢,它又不能加重量块,像一些压缩高音,更是难测了,有没有朋友测量过呢?

sunsea

我也碰到类似问题，不用附加质量法Le R1不知道如何测量，给每个高音做个盒子太麻烦。
用附加质量法，经侧出纸盆高音的完整数据；有的纸盆高音不能计算出TS参数，好像是相位曲线整体上移没有0相位点。
铝带、号角、丝膜等高音的TS参数如何测量？
尤其是铝带，用万用表量Re才0.5欧姆，基本上没有电阻（因为接触电阻也有0.3左右）
铝带高音用SW当做无源器件测量，1K以上基本上是恒定组织，这种高音的等效模型恐怕不能用Re Le R1来描述

Lafeite

高音也要测T/S参数？
我想问各位测高音的T/S参数有什么意义？
高音扬声器的参数基本上和低频扬声器或中频扬声器一样，Fs会更高，除此以外，由于其等效电路同封闭箱一样，所以Vas不存在。有些情况下阻抗和谐振峰补偿可能是需要的，加磁流体的高频扬声器对谐振峰产生很大的阻尼。一个高频扬声器的电路模型和自由空间或封闭音箱的模型一样，其机械谐振Fs、Qms、Rv和Zmax和通常一样测量。大多数高频扬声器在后面没有开孔，所以它们可被认为是封闭系统。

sunsea

主要是电特性不知道怎么测出来，主要是LspCAD里面高音要Re Le Rex三个参数。
如果不用SW，Re Le可以用电阻表和电感表直接测吗？ Le用什么频率测呢？ Rex又如何得到？
1.普通的高音问题不大
2.铝带高音是带阻抗匹配变压器的，直流0.5欧姆，1K左右有一个很宽的峰，在工作频段2K－20K基本上电阻是平直的。Re是取工作频段平直的数据吗？ Le Rex如何测？ 铝带高音的振动面积如何算？
3.号角高音的Re 、Le 、Rex 、振动面积等 如何测量？

liyusheng

用sw测测看

大电容

下面引用由Lafeite在 2004/07/18 01:20am 发表的内容：
高音也要测T/S参数？
我想问各位测高音的T/S参数有什么意义？
高音扬声器的参数基本上和低频扬声器或中频扬声器一样，Fs会更高，除此以外，由于其等效电路同封闭箱一样，所以Vas不存在。有些情况下阻抗和谐振峰　...

呵呵， 测昏头了，各位。
T/S参数模型是应用于准确进行音箱的数学推算才发明出来的， 而这个音箱几乎纯粹是为低音单元服务的。 你有见过音箱设计软件里有需要输入高音单元的T/S？
真正的T/S参数只有： Fo、Vas、Qes、Qts。 diy时高音只需要测出阻抗曲线。 并尽量远离Fo工作。

Lafeite

大电容来了啊
各位确实有点测得昏头了，即使测出来高音的T/S参数也没有任何用处。
好象是姚洪波先生说过，国外某名厂曾在其产品目录中给出过高音的T/S参数，后来又解释那是个错误。

mackliu

下面引用由Lafeite在 2004/07/18 01:20am 发表的内容：
高音也要测T/S参数？
我想问各位测高音的T/S参数有什么意义？
高音扬声器的参数基本上和低频扬声器或中频扬声器一样，Fs会更高，除此以外，由于其等效电路同封闭箱一样，所以Vas不存在。有些情况下阻抗和谐振峰　...

高音的T/S参数是没有必要去测量,因为T/S参数是为设计音箱而服务的,而且它也只能是在低音单元上实现,但对于开发扬声器单元的工厂来说,T/S参数也只是为了音箱客户而放出来的,但对开发一个单元,不管是高音还是低音,它的参数并不完全是指T/S参数,特别是高音单元,一个参数的调整对它的音质有若大影响.所以通过测量单元物理参数(有可能包括T/S参数)可以让我们计算出那些无法直接测量的关键参数,以帮助我们来调整单元性能

sunsea

大家： 我是问不同种类高音单元的电特性如何测量？